IC電磁發射測試系統特點：

依據IEC 61967-6的IC電磁發射測試系統

傳導發射測量方法——磁場探頭法 

IEC61967-6磁場探頭法是通過測試PCB板導線上的電流來評定集成電路的電磁發射。芯片引腳通過PCB板上的導線與電源或外圍電路相連，因而它產生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應定律，探頭輸出端的電壓正比于導線上的射頻電流。磁場探頭的結構細節和推薦尺寸在標準中有詳細描述，測試示意圖如下所示：

 

全套測試系統，由以下幾個部分組成：

1．EMI測試接收機，可選ESL3或者ESL6

標準對頻譜儀或接收機的要求：

·頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz

·峰值檢波、帶*大值保持功能

·分辨率帶寬的設置如下表：

R&S® ESL EMI測試接收機，是一臺能依據*新標準進行電磁干擾測試的EMI接收機，同時也是一臺全功能的頻譜分析儀。

ESL3 EMI測試接收機，完全符合IEC 61967-4標準要求，同時還能對設備級產品進行電磁兼容預測試。

2．測試電路板

對集成電路的EMC測試，被測IC需要安裝在一塊印制電路板上，為提高測試的方便性與重復性，標準規定了電路板的規格，標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。

GND22-04測試電路板，完全依據集成電路電磁兼容測試要求設計，由下列部件構成：

·測試板

·GND平面GND22-04

·連接板CB 0706

·IC適配器

·控制單元

 

3．Probe 1601H-場探頭以及Probe 1701E-場探頭

IC H-場探頭Probe 1601

Probe 1601，用于近場測量IC產生的磁場，具有50歐姆輸入，可連接磁場環（H-field loop），磁場環是可旋轉的，高度可調節。探頭的50歐姆輸出接口，可連接頻譜分析儀或者EMI測試接收機。

IC E-場探頭1701

近場測量通過IC的電場。用探頭測量到的電壓是對IC發射的測量，它被電場（E-場）激勵。

探頭的RF電壓參數是帶有集成前置放大器，輸入電阻為1.5 kΩ。輸入連接到一個25 x 25 mm 的測量電極收集電場信號。耦合面高度可調可轉換。